產(chǎn)品介紹

UV-313型紫外輻照計采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。

性能特點

1、光譜及角度特性經(jīng)嚴格校正 

2、數(shù)字液晶顯示，帶背光

3、手動/自動量程切換

4、數(shù)字輸出接口（USB,冗余供電）

5、低電量提醒

6、自動延時關(guān)機

7、有數(shù)字保持

8、輕觸按鍵操作，蜂鳴提示

技術(shù)參數(shù)

波長范圍λ1，峰值波長λp （290～340）nm，λP＝313nm

輻照度測量范圍 (0.1～199.9×103) μW/cm2

紫外帶外區(qū)雜光 UV254<0.1%，UV297<0.05%

零值誤差（滿量程FS） <滿量程的±1.0%

長波響應(yīng)誤差 <15%

余弦特性（方向性響應(yīng)）誤差 <10%

非線性誤差 <±1.5%

換檔誤差 ±1%

疲勞誤差 <3.0%

相對示值誤差 <±8.0％（相對于NIM標準）

響應(yīng)時間 <1秒

使用環(huán)境 溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH

尺寸和重量 160mm×78mm×43mm；0.2kg

電源 6F22型9V積層電池（非充電電池）

整機功耗 ＜0.1VA

配置主機、313探頭、探頭蓋、數(shù)據(jù)線、說明書、合格證、9V電池等